CISC扩展了增加多通道新功能的Xplorer Inline产品，用于并行RAIN或NFC标签的高速生产测试，更容易地找出性能较弱的标签。
CISC的NFC和RAIN Xplorer Inline的多通道新功能正面临着标签生产商，在生产过程中不降低任何速度又保证多通道品质的挑战。它允许一台控制计算机并行使用和控制多达4个Xplorer Inline设备。所有通道的自动性能测量和报告生成无需切换通道。使用更多的计算机(或交换机)，可进行12通道产品的全面测试。每个设备的测试通过和失败信息是分开的。多个测试点定义允许对不同功率水平的双频标签测试，将100k UPH的高速性能测试提高4倍。
了解更多关于我们的产品组合在生产过程中的质量保证:
NFC Xplorer Inline https://www.cisc.at/product/nfc-xplorer-inline/
RAIN Xplorer Inline https://www.cisc.at/product/rain-xplorer-inline/
